在現(xiàn)代半導體工業(yè)中，硅單晶材料的導電類型（“P”型或“N”型）是決定其應用性能的關鍵參數(shù)之一。為了滿足半導體材料廠、器件廠以及科研部門對材料導電類型快速、準確鑒別的需求，STZ—3型半導體導電型號鑒別儀應運而生。這款儀器結合了溫差效應和整流效應兩種先進的測量方法，能夠廣泛應用于硅單晶材料的導電類型檢測，尤其在太陽能電池生產(chǎn)中的原材料篩選環(huán)節(jié)表現(xiàn)尤為突出。
儀器特點：科技與實用的完美結合
- 高精度測量：
STZ—3型半導體導電型號鑒別儀采用美國16位單片集成電路計算機為核心，結合數(shù)字采集濾波技術，能夠實現(xiàn)高精度的導電類型檢測。其測量范圍廣泛，適用于電阻率在10?2~10?Ω?cm之間的硅單晶材料，無論是高阻還是低阻材料，都能輕松應對。 - 直觀顯示：
儀器通過“P”和“N”數(shù)碼直接顯示測量結果，操作人員無需復雜的數(shù)據(jù)分析即可快速獲取材料的導電類型信息，大大提高了檢測效率。 - 手持式四探針探頭：
配備手持式四探針探頭，探針間距為3 mm，探針直徑為1 mm，采用高速鋼材質，耐磨性強，使用壽命長。探頭設計符合人體工學，操作簡單方便，適合長時間連續(xù)工作。 - 智能聲光報警：
在太陽能多晶材料分選過程中，儀器采用整流法進行檢測，并對電阻率低于0.01Ω?cm的材料提供聲光報警功能，確保低阻材料能夠被快速識別和篩選，廣泛應用于太陽能電池生產(chǎn)的原材料篩選環(huán)節(jié)。 - 廣泛適用性：
儀器不僅適用于硅單晶材料，還可用于半導體硅棒、硅片以及硅碎顆粒的導電類型檢測。可測材料尺寸范圍廣泛，從Φ15 mm到Φ150 mm以上，滿足不同規(guī)格材料的檢測需求。
主要技術指標
- 測量范圍：?硅單晶材料電阻率10?2~10?Ω?cm
- 可測量材料：?半導體硅棒、硅片及硅碎顆粒
- 可測材料尺寸：?Φ15~Φ150 mm以上
- 顯示方式：?“P”和“N”燈顯示
- 測試探頭：?手持式四探針，探針間距3 mm，探針直徑1 mm，材質為高速鋼
- 電源：?220V 50Hz 20W
應用場景：從實驗室到生產(chǎn)線
- 半導體材料廠：
用于硅單晶材料的導電類型檢測，確保材料符合生產(chǎn)要求，提高產(chǎn)品質量。 - 器件廠：
在半導體器件制造過程中，快速篩選符合要求的硅片，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。 - 科研部門：
為新材料研發(fā)提供精準的導電類型數(shù)據(jù)支持，助力科研創(chuàng)新。 - 太陽能電池生產(chǎn)：
在原材料篩選環(huán)節(jié)，快速識別低阻材料，提高太陽能電池的生產(chǎn)效率和性能。
定制化服務：滿足多樣化需求
STZ—3型半導體導電型號鑒別儀不僅具備強大的標準功能，還支持非標定制服務。如果您有特殊的測量需求或技術指標要求，歡迎來電來函提出，我們將根據(jù)您的具體需求提供定制化解決方案，確保儀器完全符合您的使用場景。
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